上海原朵信息技术有限公司

关键优势

高亮度图像
Phenom Pharos Desktop SEM 拥有 FEG 源的强大功能，如清晰、高亮度图像，任何用户都可以使用。
可选配二级电子检测器
SED 从样品的顶部表层收集低能量电子。因此，是揭示详细样品表面信息的理想选择。
高度多样性应用
通过使用广泛的样品架，例如冶金、温度控制、电加样和许多第三方样品架，您可以在特定的 SEM 应用中使用 Phenom Pharos Desktop SEM 获得更多见解。
性能数据

光学放大率	27–160x
电子光学放大率范围	2,000,000x
分辨率	优于2.0nm@20kV(SE) 优于3nm@20kV(BSE)
光学导航摄像头	彩色
加速电压	1kV-20kV，连续可调
真空模式	高真空模式中真空模式集成的电荷减少模式（低真空模式）
检测器	背向散射电子检测器（标配）能量色散型 X 射线光谱 (EDS) 检测器（可选）二级电子检测器（可选）
样本尺寸	最大直径 25 mm（32 mm 可选）
样品高度	最大 35 mm（100 mm 可选）